Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras. Revista EIA, [S. l.], n. 1, p. 61–67, 2014. Disponível em: https://eiaupgrade.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578. Acesso em: 18 jul. 2025.