“Medidas De Transmitancia Espectral Sin La Presencia De Franjas De Interferencia: Un Modelo Para La obtención De Las Constantes ópticas En películas Delgadas Semiconductoras”. 2014. Revista EIA, no. 1 (April): 61-67. https://eiaupgrade.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578.