“Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras”, reveia, no. 1, pp. 61–67, Apr. 2014, Accessed: Jul. 18, 2025. [Online]. Available: https://eiaupgrade.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578