“Medidas De Transmitancia Espectral Sin La Presencia De Franjas De Interferencia: Un Modelo Para La obtención De Las Constantes ópticas En películas Delgadas Semiconductoras”. Revista EIA, no. 1, Apr. 2014, pp. 61-67, https://eiaupgrade.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578.