Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras. reveia [Internet]. 2014 Apr. 29 [cited 2025 Dec. 15];(1):61-7. Available from: https://eiaupgrade.metarevistas.org/index.php/reveia/article/view/578